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Deep Si etching

Si深掘り加工技術

Deep Si etching

Si深掘り加工装置Si DRIE

1995年に世界で初めて実用的なSi深掘り装置を発売した当社は、
高精度・難易度の高いSiエッチングをご提供する技術を保有しています。

Si深掘り加工
(Si DRIE:"Bosch-Process")
の仕組み

ボッシュプロセス"Bosch-Process" はドイツのRobert Bosch GmbH社によって1992年に開発された
エッチングとパッシベーション(側壁保護膜形成)を繰返しながら行う切り替えエッチング方式です。
当社ではグループ会社のSPP テクノロジーズ社の各種装置を使用しており、
研究試作から量産までの各用途で加工精度や生産性を高めた装置を高い技術を用いて取り扱うことができます。

Si深掘り加工(Si Deep RIE:

Si深掘り加工の進化

自社開発の装置の機能向上によって、大幅なエッチレートの向上が進んでいます。

Si深掘り加工の進化:エッチレートの向上

高精度の深掘り加工例

二段加工
高アスペクト
特殊加工

Si深掘り加工の進化:形状制御性の向上

自社開発装置の形状制御性が高まり、深掘り加工を行っても安定した形状を再現できます。

Si深掘り加工の進化:形状制御性の向上

200mmウエハのエッジ3mmまで、
Tilt角度 0.1°以下を安定して再現

(a)高速スイッチングによる側壁粗さ低減
(側壁粗さ16nm、40µm深さ)

(b)SOIウエハでの酸化膜界面におけるノッチ低減
(3µm幅、100µm深さ、オーバエッチ30%)

(c)パラメータランピング
(5µm幅、200µm深さ、アスペクト比40)

Si DRIEの進化:形状制御性の向上

Si深掘り加工があったからこそ実現されたデバイス